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LT2800 激光粒度分析仪
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LT2800 激光粒度分析仪

LT2800 激光粒度分析仪

更新时间:2026-02-27

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品牌: 暂无
型号: 暂无
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产品详情

产品名称: LT2800 激光粒度分析仪
产品分类: 粒度分析仪
产品关键词: LT2800 激光粒度分析仪
是否为生产商:
主要销售市场: 中国,北美洲,中/南美洲,西欧,东欧,大洋洲,亚洲,中东,非洲

产品描述:

LT2800粒度测定仪是真理光学基于多年的科研成果开发的新一代智能激光粒度分析系统,加持了多项创新和专利技术,无需更换透镜,无需使用标准样校准。采用波长638nm,功率最大20mW的固体激光器及波长468nm,功率12mW的固体蓝光光源的双光源系统,量程范围达到0.01微米至2800微米,测量速度最高可达20000次/秒,兼具极高的灵敏度和重现性,对所有类型的样品均可获得准确可靠的结果,并且采用了改进型反演算法,具有不同仪器及方法的结果模拟功能。 LT2800激光粒度分析仪技术特点 1、仪器完全符合ISO13320粒度测量技术标准 2、粒径范围0.01微米–2800微米,单一透镜且无需更换 3、粒径测量准确度优于±0.5%,重复性优于±0.5% 4、集成恒温系统的波长638nm,功率最大20mW的固体激光器及波长468nm,功率12mW的固体蓝光光源的双光源系统,彻底克服氦氖气体激光器预热时间长,使用寿命短的缺点 5、高灵敏度光能跟踪与稳定技术 6、检测器配置非均匀交叉面积补偿的检测器阵列及高灵敏度后向散射检测单元 7、采用专利技术的光纤偏振空间滤波器* 8、测量速度最高可达每秒20000次 9、采用斜置测量窗口,减少全反射对结果的影响 10、智能全自动光学对中 11、衍射爱里斑反常变化的自动修正功能 12、改进型反演算法,具有不同仪器及方法的结果模拟功能 13、配置独立的全自动进样系统,且具有SOP控制及共享功能 14、双驱动进样分散集成技术,循环和搅拌分开独立设置和控制 15、液位自动感应及连续可调和控制,分散介质容积可通过软件调节控制 16、进样器超声功率100瓦,超声功率连续可调,并具有低液位超声保护功能 注:*文中关联之专利技术为我司应产品性能需要使用不限于下述部分或全部专利技术,最终解释权归真理光学所有。真理光学为ZL201720195784.7/ZL201720374474.1/ZL201720189750.7/ZL201621332818.4/ZL201810552388.4/ZL201921219223.1/ZL201911071791.6/ZL202121718637.6/ZL202122186274.2专利权持有人。

公司简介

真理光学仪器有限公司专注于高端颗粒表征仪器的研发和制造,产品涵盖激光(衍射法)粒度分析仪、动态光散射纳米粒度及Zeta电位分析仪以及颗粒图像分析仪,既有实验室仪器,又有在线检测系统。真理光学秉持“科学态度,工匠精神”,为用户提供世界先进的高端产品和服务。真理光学汇集了以张福根博士为代表的全国颗粒表征领域的优秀人才。张福根博士现任本公司董事长兼首席科学家,还担任全国颗粒表征及分检与筛网标准化技术委员会副主任委员、天津大学兼职教授,曾担任中国颗粒学会副理事长,同时也是“欧美克”字号公司的创始人。曾担任英国某粒度仪器公司中国总经理20余年的秦和义先生担任本公司商务总经理,中国颗粒学会青年理事潘林超博士、陈进博士担纲公司的研发主力。激光(衍射法)粒度仪虽然已得到广泛应用,但还存在需要完善的地方,不论是科学基础方面,还是技术方案方面。真理光学的团队针对当前市面上仪器存在的不足,展开了系统的理论研究和技术创新,发现了衍射光斑(爱里斑)的反常变化现象(ACAD),解释了为什么不能测量3μm左右的聚苯乙烯微球,并给出了反常区(不能测量粒径)的一般公式;研究了衍射仪器的测量上限和下限;研究了颗粒折射率偏差对测量结果的影响,发明了两种根据散射光分布估算颗粒折射率的方法;提出了斜置梯形窗口技术方案(专利),解决了前向超大角测量盲区的问题,使衍射仪器的亚微米颗粒测量水平显著提高;提出了统一的反演算法(专有技术),消除了不同计算模式给出不同结果的尴尬;设计出了高达20Kfps的超高速并行数据采样电路,使干法测量的精度不亚于湿法测量,对高速喷雾场的测量(时间)分辨率也更高。在纳米粒度及Zeta电位仪方面,真理光学提出了比相位分析法(PALS)更先进的余弦拟合相位分析法(CF-PALS),用光纤分束取代了传统的平板分束镜分束,用光纤内光干涉取代了自由空间干涉,使Zeta电位的测量重复性大幅度提高。
注册资本:
企业规模(人):
业务类型:
成立日期:
年销售额:
主营产品类别:

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