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纳米粒度分析仪
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更新时间:2026-02-27

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品牌: 暂无
型号: 暂无
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产品详情

产品名称: 纳米粒度分析仪
产品分类: 粒度分析仪
产品关键词: 激光粒度仪
是否为生产商:
主要销售市场: 中国,北美洲,中/南美洲,西欧,东欧,大洋洲,亚洲,中东,非洲

产品描述:

Nanolink SZ902 纳米粒度及 Zeta电位分析仪

SZ902纳米粒度及 Zeta电位分析仪是继SZ901之后推出的又一款高性能动态光散射纳米粒度仪产品,加持了全新的自动变焦技术实现对纳米样品的多角度测量,无需稀释即可对各种不同浓度的有机或无机纳米颗粒、乳液、高分子聚合物、胶束、病毒抗体及蛋白质等纳米样品的粒度及Zeta电位快速测量。

主要特征:

优异性能:

1. 测量范围覆盖0.3nm – 15um,可提供经典90°以及12°和173°多角度测量

2. 激光多普勒电泳技术用于Zeta电位分析,可准确预知分散体系的稳定性及颗粒团聚的倾向性

3. 加持自动恒温技术的最高功率可达50mW, 波长638nm的固体激光光源,仪器即开即用

4. 独创的激光光源与照明光及参考光的一体化及光纤分束技术

5. 独创的信号光与参考光的光纤合束及干涉技术

6. 集成光纤技术的高灵敏度和极低暗电流(20cps)的光子检测器

7. 常规温度控制范围可达-10°C~ 120°C, 精度±0.1°C

8. 新一代高速数字相关器,动态范围大于10¹¹

9. 冷凝控制 – 干燥气体吹扫技术

补充信息:
纳米粒度分析仪是一种用于测量纳米颗粒尺寸分布的高精度仪器,广泛应用于材料科学、生物医药、化工等领域。它通过动态光散射(DLS)、激光衍射等技术,快速准确地分析颗粒的粒径、浓度及分散性,帮助科研人员优化材料性能和产品质量。使用时应避免强光直射、保持样品清洁、防止气泡干扰,并定期校准仪器以确保测量精度。该仪器操作简便,适用于实验室及工业生产中的颗粒表征需求。
补充信息由AI自动生成,仅供参考。

公司简介

真理光学仪器有限公司专注于高端颗粒表征仪器的研发和制造,产品涵盖激光(衍射法)粒度分析仪、动态光散射纳米粒度及Zeta电位分析仪以及颗粒图像分析仪,既有实验室仪器,又有在线检测系统。真理光学秉持“科学态度,工匠精神”,为用户提供世界先进的高端产品和服务。真理光学汇集了以张福根博士为代表的全国颗粒表征领域的优秀人才。张福根博士现任本公司董事长兼首席科学家,还担任全国颗粒表征及分检与筛网标准化技术委员会副主任委员、天津大学兼职教授,曾担任中国颗粒学会副理事长,同时也是“欧美克”字号公司的创始人。曾担任英国某粒度仪器公司中国总经理20余年的秦和义先生担任本公司商务总经理,中国颗粒学会青年理事潘林超博士、陈进博士担纲公司的研发主力。激光(衍射法)粒度仪虽然已得到广泛应用,但还存在需要完善的地方,不论是科学基础方面,还是技术方案方面。真理光学的团队针对当前市面上仪器存在的不足,展开了系统的理论研究和技术创新,发现了衍射光斑(爱里斑)的反常变化现象(ACAD),解释了为什么不能测量3μm左右的聚苯乙烯微球,并给出了反常区(不能测量粒径)的一般公式;研究了衍射仪器的测量上限和下限;研究了颗粒折射率偏差对测量结果的影响,发明了两种根据散射光分布估算颗粒折射率的方法;提出了斜置梯形窗口技术方案(专利),解决了前向超大角测量盲区的问题,使衍射仪器的亚微米颗粒测量水平显著提高;提出了统一的反演算法(专有技术),消除了不同计算模式给出不同结果的尴尬;设计出了高达20Kfps的超高速并行数据采样电路,使干法测量的精度不亚于湿法测量,对高速喷雾场的测量(时间)分辨率也更高。在纳米粒度及Zeta电位仪方面,真理光学提出了比相位分析法(PALS)更先进的余弦拟合相位分析法(CF-PALS),用光纤分束取代了传统的平板分束镜分束,用光纤内光干涉取代了自由空间干涉,使Zeta电位的测量重复性大幅度提高。
注册资本:
企业规模(人):
业务类型:
成立日期:
年销售额:
主营产品类别:
珠海真理光学仪器有限公司
注册资本2000万
公司地址
广东省珠海市广东省珠海市高新区金唐路1号港湾1号科创园湾5栋3层
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