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Nanolink SZ902纳米粒度分析仪
Nanolink SZ902纳米粒度分析仪
Nanolink SZ902纳米粒度分析仪

Nanolink SZ902纳米粒度分析仪

更新时间:2026-02-27

价格:
品牌: 真理光学
型号: Nanolink SZ902
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产品详情

产品名称: Nanolink SZ902纳米粒度分析仪
产品分类: 粒度/颗粒/粉末分析仪器
产品关键词: 动态光散射粒度仪,Zeta电位
是否为生产商:
主要销售市场: 中国,北美洲,中/南美洲,西欧,东欧,大洋洲,亚洲,中东,非洲
品牌: 真理光学
型号: Nanolink SZ902

产品描述:

NanolinkSZ902系列纳米粒度及Zeta电位分析仪是继在SZ901系列纳米粒度分析仪后推出的全新一款高性能动态光散射纳米粒度仪产品,加持了真理光学最新研发的全自动聚焦技术,实现了对纳米样品的多角度测量,无需稀释即可对不同浓度纳米样品的粒度及Zeta电位快速测量,十分适合各种有机或无机纳米颗粒、乳液、高分子聚合物、胶束、病毒抗体及蛋白质等多种样品的粒度及Zeta电位研究级分析测试。

    NanolinkSZ902纳米粒度分析仪的杰出性能和主要特点包括:

    ◆包含经典90°、背向和前向动态光散射技术测量粒径,测量范围覆盖0.3nm–15μm*

    ◆激光多普勒电泳技术用于Zeta电位分析,可准确预知分散体系的稳定性及颗粒团聚的倾向性

    ◆加持自动恒温技术的最高功率可达50mW,波长638nm的固体激光光源,仪器即开即用

    ◆独创的余弦拟合相位分析法(CF-PALS)优于目前的频谱分析法(FFT)和传统的位相分析法(PALS)

    ◆独创的激光光源与照明光及参考光的一体化及光纤分束技术

    ◆独创的信号光与参考光的光纤合束及干涉技术

    ◆集成光纤技术的高灵敏度和极低暗电流(20cps)的光子检测器

    ◆常规温度控制范围可达-15°C~120°C,精度±0.1°C

    ◆新一代高速数字相关器,动态范围大于10¹¹

    ◆冷凝控制–干燥气体吹扫技术

    ◆与真理光学的全自动滴定仪联用,检测粒径和Zeta电位随pH值、电导率及添加剂浓度的变化趋势,从而更清晰准确地洞察和了解样品分散体系的稳定性及产生絮凝或颗粒团聚的机理

原理:
动态光散射
产品优势:
多角度测量、APD高灵敏度探测、Zeta电位分析
主要特征:
测量原理动态光散射(DLS)、静态光散射(SLS)、电泳光散射(ELS)
粒径测量角度90°,173°(高浓度),12°(Zeta电位)
粒径测量范围0.3nm -15um*
粒径测量最小样品量3ul*
粒径测量最小样品浓度0.1mg/ml
粒径测量最大样品浓度40%/wv**
检测点位置0~6mm自动选择及调节
检测点定位精度0.01mm
Zeta电位测量技术余弦拟合位相分析法(CF-PALS)
Zeta电位测量范围无实际限制
适用Zeta电位测量的粒径1nm - 120μm*
迁移率范围最小0,最大无实际限制
最大电导率270mS/cm
电极插入式平板电极、U型毛细管电极
分子量范围340Da - 2x107Da
其它高级测量/计算功能介质粘度、折光率、样品透过率/浓度、第二维利系数、颗粒间相互作用力系数和聚集度指数
产品标准ISO13321,ISO22412-2017,ISO13099
合规认证一类激光,CE、FDA、FCC、ROHS
光源集成恒温系统及光纤耦合的最大功率50mW, 波长638nm固体激光器
光强度调整范围自动调节,0.0001%~100%
相关器高速数字相关器,自适应通道配置
检测器高灵敏度APD
温度控制范围-15°C ~ 120°C
温度控制精度±0.1°C
进样方式手动/自动
样品池(选配)12mm比色皿、3μL毛细管超微量样品池、40μL微量样品池
环境要求5-40℃,10%-80%相对湿度(无凝结)
工作电源AC100V-240V,标准接地,直流电源供电24V/5A
系统重量20kg
外形尺寸430mm x 510mm x 230mm (LxWxH)


公司简介

真理光学仪器有限公司专注于高端颗粒表征仪器的研发和制造,产品涵盖激光(衍射法)粒度分析仪、动态光散射纳米粒度及Zeta电位分析仪以及颗粒图像分析仪,既有实验室仪器,又有在线检测系统。真理光学秉持“科学态度,工匠精神”,为用户提供世界先进的高端产品和服务。真理光学汇集了以张福根博士为代表的全国颗粒表征领域的优秀人才。张福根博士现任本公司董事长兼首席科学家,还担任全国颗粒表征及分检与筛网标准化技术委员会副主任委员、天津大学兼职教授,曾担任中国颗粒学会副理事长,同时也是“欧美克”字号公司的创始人。曾担任英国某粒度仪器公司中国总经理20余年的秦和义先生担任本公司商务总经理,中国颗粒学会青年理事潘林超博士、陈进博士担纲公司的研发主力。激光(衍射法)粒度仪虽然已得到广泛应用,但还存在需要完善的地方,不论是科学基础方面,还是技术方案方面。真理光学的团队针对当前市面上仪器存在的不足,展开了系统的理论研究和技术创新,发现了衍射光斑(爱里斑)的反常变化现象(ACAD),解释了为什么不能测量3μm左右的聚苯乙烯微球,并给出了反常区(不能测量粒径)的一般公式;研究了衍射仪器的测量上限和下限;研究了颗粒折射率偏差对测量结果的影响,发明了两种根据散射光分布估算颗粒折射率的方法;提出了斜置梯形窗口技术方案(专利),解决了前向超大角测量盲区的问题,使衍射仪器的亚微米颗粒测量水平显著提高;提出了统一的反演算法(专有技术),消除了不同计算模式给出不同结果的尴尬;设计出了高达20Kfps的超高速并行数据采样电路,使干法测量的精度不亚于湿法测量,对高速喷雾场的测量(时间)分辨率也更高。在纳米粒度及Zeta电位仪方面,真理光学提出了比相位分析法(PALS)更先进的余弦拟合相位分析法(CF-PALS),用光纤分束取代了传统的平板分束镜分束,用光纤内光干涉取代了自由空间干涉,使Zeta电位的测量重复性大幅度提高。
注册资本:
企业规模(人):
业务类型:
成立日期:
年销售额:
主营产品类别:

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纳米粒度及Zeta电位分析仪
纳米粒度及Zeta电位分析仪
NanolinkSZ902系列纳米粒度及Zeta电位分析仪是继在SZ901系列纳米粒度分析仪后推出的全新一款高性能动态光散射纳米粒度仪产品,加持了真理光学最新研发的全自动聚焦技术,实现了对纳米样品的多角度测量,无需稀释即可对不同浓度纳米样品的粒度及Zeta电位快速测量,十分适合各种有机或无机纳米颗粒、乳液、高分子聚合物、胶束、病毒抗体及蛋白质等多种样品的粒度及Zeta电位研究级分析测试。     NanolinkSZ902纳米粒度分析仪的杰出性能和主要特点包括:     ◆包含经典90°、背向和前向动态光散射技术测量粒径,测量范围覆盖0.3nm–15μm*     ◆激光多普勒电泳技术用于Zeta电位分析,可准确预知分散体系的稳定性及颗粒团聚的倾向性     ◆加持自动恒温技术的最高功率可达50mW,波长638nm的固体激光光源,仪器即开即用     ◆独创的余弦拟合相位分析法(CF-PALS)优于目前的频谱分析法(FFT)和传统的位相分析法(PALS)     ◆独创的激光光源与照明光及参考光的一体化及光纤分束技术     ◆独创的信号光与参考光的光纤合束及干涉技术     ◆集成光纤技术的高灵敏度和极低暗电流(20cps)的光子检测器     ◆常规温度控制范围可达-15°C~120°C,精度±0.1°C     ◆新一代高速数字相关器,动态范围大于10¹¹     ◆冷凝控制–干燥气体吹扫技术     ◆与真理光学的全自动滴定仪联用,检测粒径和Zeta电位随pH值、电导率及添加剂浓度的变化趋势,从而更清晰准确地洞察和了解样品分散体系的稳定性及产生絮凝或颗粒团聚的机理
LT3600 Pro激光粒度分析仪
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LT2800 激光粒度分析仪
LT2800 激光粒度分析仪
NanolinkSZ902系列纳米粒度及Zeta电位分析仪是继在SZ901系列纳米粒度分析仪后推出的全新一款高性能动态光散射纳米粒度仪产品,加持了真理光学最新研发的全自动聚焦技术,实现了对纳米样品的多角度测量,无需稀释即可对不同浓度纳米样品的粒度及Zeta电位快速测量,十分适合各种有机或无机纳米颗粒、乳液、高分子聚合物、胶束、病毒抗体及蛋白质等多种样品的粒度及Zeta电位研究级分析测试。     NanolinkSZ902纳米粒度分析仪的杰出性能和主要特点包括:     ◆包含经典90°、背向和前向动态光散射技术测量粒径,测量范围覆盖0.3nm–15μm*     ◆激光多普勒电泳技术用于Zeta电位分析,可准确预知分散体系的稳定性及颗粒团聚的倾向性     ◆加持自动恒温技术的最高功率可达50mW,波长638nm的固体激光光源,仪器即开即用     ◆独创的余弦拟合相位分析法(CF-PALS)优于目前的频谱分析法(FFT)和传统的位相分析法(PALS)     ◆独创的激光光源与照明光及参考光的一体化及光纤分束技术     ◆独创的信号光与参考光的光纤合束及干涉技术     ◆集成光纤技术的高灵敏度和极低暗电流(20cps)的光子检测器     ◆常规温度控制范围可达-15°C~120°C,精度±0.1°C     ◆新一代高速数字相关器,动态范围大于10¹¹     ◆冷凝控制–干燥气体吹扫技术     ◆与真理光学的全自动滴定仪联用,检测粒径和Zeta电位随pH值、电导率及添加剂浓度的变化趋势,从而更清晰准确地洞察和了解样品分散体系的稳定性及产生絮凝或颗粒团聚的机理
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